东京工业大学发明创新设计可对抗锁相环中的分数杂散

2024-02-20 14:52:59 来源：盖世汽车阅读量：8336

盖世汽车讯据外媒报道，东京工业大学的科学家报告称，两种创新设计技术可显著提高分数N锁相环(PLL)的性能。

所提出的方法旨在最大限度地减少称为分数杂散的不需要的信号，这种信号通常困扰许多现代雷达系统和无线收发器中使用的PLL。这些努力可以为5G时代之后无线通信、自动驾驶汽车、监控和跟踪系统的技术改进打开大门。

许多新兴和不断发展的技术，例如自动驾驶车辆、目标跟踪系统和远程传感器，都依赖于无线数据收发器和雷达系统的高速、无差错运行。在这些应用中，锁相环是帮助振荡信号合成、调制和同步的关键组件。因此，消除或最小化PLL中的误差源对于提高系统的整体性能至关重要。

在分数N PLL中，一种流行的PLL类型具有出色的分辨率和对频率、抖动和分数杂散的灵活控制，其中“抖动”是指与合成振荡的理想时序的总体偏差。另一方面，分数杂散是由于误差的周期性而产生的不需要的信号。

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